ED-400型渦流測(cè)厚儀適于在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)、銷售現(xiàn)場(chǎng)或施工現(xiàn)場(chǎng)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行快速、無(wú)損的膜厚檢查， 可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)和質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量渦流法》。

儀器特點(diǎn)

天星ED-400型渦流測(cè)厚儀與ED300型相比，具有如下特點(diǎn)：

● 量程寬-    ED400型渦流測(cè)厚儀量程達(dá)到0～500 μm。

● 精度高-    測(cè)量精度達(dá)到2%。

● 分辨率高-    分辨率達(dá)到0.1 μm

● 校正簡(jiǎn)便-    只校正“0”和“50 μm”兩點(diǎn)，即可在全量程范圍內(nèi)保證設(shè)計(jì)精度。

● 基體導(dǎo)電率影響小-   基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時(shí)，測(cè)量誤差不大于1～2 μm。

● 可靠性提高-   采用集成度高、穩(wěn)定性好電子器件，電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化，儀器可靠性提高。

● 穩(wěn)定性提高-   采用溫度補(bǔ)償技術(shù)，測(cè)量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)長(zhǎng)期使用。

● 探頭芯壽命長(zhǎng)-   采用強(qiáng)度高的磁芯材料，微調(diào)了探頭設(shè)計(jì)，探頭芯壽命可大延長(zhǎng)。

技術(shù)參數(shù)

標(biāo)準(zhǔn)配置:

主機(jī)           

探頭           

基體（6063鋁合金）

校正箔片   一套4片（附檢測(cè)報(bào)告）

儀器箱

可選附件:

備用探頭

基體

校正箔片（附檢測(cè)報(bào)告）